雙激光掃描儀校準(zhǔn)方法、裝置及設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011431872.5 申請日 -
公開（公告）號 CN112556576B 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN112556576B 申請公布日 2022-06-21
分類號 G01B11/00;G01S7/497;G05D1/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 萬慧銘;徐光運(yùn);沈長鵬;張小藝;劉鵬;張貽弓 申請（專利權(quán)）人 蘭劍智能科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南誠智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 代理人 李修杰
地址 250101 山東省濟(jì)南市高新區(qū)龍奧北路909號海信龍奧九號1號樓19層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種雙激光掃描儀校準(zhǔn)方法、裝置及設(shè)備，方法包括以下步驟：建立差速運(yùn)動模型；按照差速車運(yùn)動模型控制車體走設(shè)定的路線；獲取車體的運(yùn)動路線數(shù)據(jù)和激光器的定位數(shù)據(jù)；計算激光器與車體運(yùn)動中心的偏差；根據(jù)計算的偏差值對雙激光掃描儀進(jìn)行校準(zhǔn)。本發(fā)明不僅減小了人為操作失誤造成的結(jié)果誤差；而且減小了車體加工的誤差對校準(zhǔn)結(jié)果的影響。