三維檢測(cè)系統(tǒng)和三維檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011457266.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112747671A 公開（公告）日 2021-05-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN112747671A 申請(qǐng)公布日 2021-05-04
分類號(hào) G01B11/00;G06K9/00;G06K9/20;G06K9/46;G06K9/62 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 杜華;董偉超;徐玉凱 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京天遠(yuǎn)三維科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京開陽星知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 安偉
地址 100192 北京市海淀區(qū)清河永泰園甲1號(hào)綜合樓512-519房間
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種三維檢測(cè)系統(tǒng)和三維檢測(cè)方法，該三維檢測(cè)系統(tǒng)包括：圖像采集傳感器，用于采集物體表面圖像；二維孔特征計(jì)算器，用于基于所述物體表面圖像，確定孔二維特征參數(shù)；三維孔特征計(jì)算器，用于基于所述孔二維特征參數(shù)，對(duì)孔進(jìn)行三維重建，確定孔三維特征參數(shù)；輔助功能計(jì)算器，用于基于所述孔二維特征參數(shù)和所述孔三維特征參數(shù)，對(duì)所述孔三維特征參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化。本公開實(shí)施例提供的技術(shù)方案，通過對(duì)物體表面圖像進(jìn)行識(shí)別，確定孔二維特征參數(shù)和孔三維特征參數(shù)，并利用輔助功能計(jì)算器對(duì)孔三維特征參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，可實(shí)現(xiàn)有效測(cè)量孔位。