光學(xué)測(cè)量參考裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022910271.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN213902371U | 公開(公告)日 | 2021-08-06 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN213902371U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-06 |
分類號(hào) | G01C15/02(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 杜華;董偉超;李智;李洲強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京天遠(yuǎn)三維科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京開陽(yáng)星知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 楊中鶴;麻雪梅 |
地址 | 100192北京市海淀區(qū)清河永泰園甲1號(hào)綜合樓512-519房間 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本公開涉及光學(xué)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種光學(xué)測(cè)量參考裝置。包括至少四個(gè)靶標(biāo)和至少一個(gè)主體支撐結(jié)構(gòu),每個(gè)靶標(biāo)均包括與主體支撐結(jié)構(gòu)連接的固定部、遠(yuǎn)離主體支撐結(jié)構(gòu)的端頭部以及位于固定部與端頭部之間的側(cè)端部,側(cè)端部上設(shè)有至少一組第一標(biāo)記點(diǎn),每組第一標(biāo)記點(diǎn)的中心均位于同一平面上,同一組的第一標(biāo)記點(diǎn)的中心所在平面平行于相對(duì)應(yīng)的靶標(biāo)所在的球體的切平面,主體支撐結(jié)構(gòu)上設(shè)有安裝部。本公開通過(guò)對(duì)靶標(biāo)以及靶標(biāo)上標(biāo)記點(diǎn)的位置進(jìn)行設(shè)置,可滿足全方位無(wú)死角的任意觀測(cè)角度需求,并將其模塊化,從而在保證測(cè)量精度和可靠性的同時(shí),有效提升了技術(shù)的適用性和效率,并大幅降低了技術(shù)門檻和方案成本。 |
