一種超大規(guī)模集成電路SPEF寄生參數的并行加速提取方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111229719.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113673192A 公開（公告）日 2021-11-19
申請公布號 CN113673192A 申請公布日 2021-11-19
分類號 G06F30/3315（2020.01）I;G06F30/337（2020.01）I;G06F9/50（2006.01）I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 謝卓;陳剛 申請（專利權）人 南京集成電路設計服務產業(yè)創(chuàng)新中心有限公司
代理機構 北京德崇智捷知識產權代理有限公司 代理人 王金雙
地址 211800江蘇省南京市浦口區(qū)華創(chuàng)路73號高新總部大廈（原韋恩大廈）A座7樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種超大規(guī)模集成電路SPEF寄生參數的并行加速提取方法，包括以下步驟：啟動多線程，根據SPEF文件的分支結構，并行將文件劃分為基本屬性定義部分和參數文件體部分的多個數據塊；啟動多線程，并行讀取每個數據塊建立并分析時序圖所需要的寄生參數數據；啟動多線程，并行對每個數據塊進行耦合電容的合并。本發(fā)明的超大規(guī)模集成電路SPEF寄生參數的并行加速提取方法，通過細粒度的任務劃分，達到了非?？陀^的高度并行，和良好的加速比，提高了靜態(tài)時序分析在電路設計優(yōu)化過程中的響應速度。