一種超大規(guī)模集成電路SPEF寄生參數(shù)的并行加速提取方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111229719.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113673192B 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN113673192B 申請公布日 2022-02-22
分類號 G06F30/3315（2020.01）I;G06F30/337（2020.01）I;G06F9/50（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 謝卓;陳剛 申請（專利權(quán)）人 南京集成電路設(shè)計服務(wù)產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心有限公司
代理機構(gòu) 北京德崇智捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王金雙
地址 211800江蘇省南京市浦口區(qū)華創(chuàng)路73號高新總部大廈（原韋恩大廈）A座7樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種超大規(guī)模集成電路SPEF寄生參數(shù)的并行加速提取方法，包括以下步驟：啟動多線程，根據(jù)SPEF文件的分支結(jié)構(gòu)，并行將文件劃分為基本屬性定義部分和參數(shù)文件體部分的多個數(shù)據(jù)塊；啟動多線程，并行讀取每個數(shù)據(jù)塊建立并分析時序圖所需要的寄生參數(shù)數(shù)據(jù)；啟動多線程，并行對每個數(shù)據(jù)塊進(jìn)行耦合電容的合并。本發(fā)明的超大規(guī)模集成電路SPEF寄生參數(shù)的并行加速提取方法，通過細(xì)粒度的任務(wù)劃分，達(dá)到了非常客觀的高度并行，和良好的加速比，提高了靜態(tài)時序分析在電路設(shè)計優(yōu)化過程中的響應(yīng)速度。