一種一維角度探測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810547690.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN108731631A 公開(kāi)（公告）日 2018-11-02
申請(qǐng)公布號(hào) CN108731631A 申請(qǐng)公布日 2018-11-02
分類號(hào) G01C1/00;G01V8/10 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 尹飛;汪韜 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 西安中科迅捷光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 西安恒泰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 西安中科迅捷光電科技有限公司
地址 710119 陜西省西安市高新區(qū)新型工業(yè)園西部大道60號(hào)研究生教育中心1層中科創(chuàng)星眾創(chuàng)空間4號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種一維角度探測(cè)方法，將矩形光敏面沿對(duì)角線劃分為兩部分，得到兩個(gè)響應(yīng)電壓值，根據(jù)響應(yīng)電壓值準(zhǔn)確求得目標(biāo)物體與探測(cè)器之間的夾角。本發(fā)明通過(guò)目標(biāo)物體的光斑在矩形光敏面的幾何位置推出目標(biāo)物體在視場(chǎng)的具體角度偏移。此方法計(jì)算簡(jiǎn)單，實(shí)用性較強(qiáng)。