一種一維角度探測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810547690.0 申請日 -
公開（公告）號 CN108731631B 公開（公告）日 2019-04-09
申請公布號 CN108731631B 申請公布日 2019-04-09
分類號 G01C1/00（2006.01）I; G01V8/10（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 尹飛; 汪韜 申請（專利權(quán)）人 西安中科迅捷光電科技有限公司
代理機構(gòu) 西安恒泰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 西安中科迅捷光電科技有限公司
地址 710119 陜西省西安市高新區(qū)新型工業(yè)園西部大道60號研究生教育中心1層中科創(chuàng)星眾創(chuàng)空間4號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種一維角度探測方法，將矩形光敏面沿對角線劃分為兩部分，得到兩個響應(yīng)電壓值，根據(jù)響應(yīng)電壓值準(zhǔn)確求得目標(biāo)物體與探測器之間的夾角。本發(fā)明通過目標(biāo)物體的光斑在矩形光敏面的幾何位置推出目標(biāo)物體在視場的具體角度偏移。此方法計算簡單，實用性較強。