超聲波探頭分辨力檢測用對(duì)比試塊

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023298349.8 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN214310329U 公開（公告）日 2021-09-28
申請公布號(hào) CN214310329U 申請公布日 2021-09-28
分類號(hào) G01N29/30（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李丕良;王艷鵬;賈超;安彥玲;趙小強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 太重（天津）濱海重型機(jī)械有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京奧文知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張文
地址 300460天津市濱海新區(qū)臨港經(jīng)濟(jì)區(qū)1號(hào)3號(hào)樓308室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種超聲波探頭分辨力檢測用對(duì)比試塊，包括水平分辨力對(duì)比試塊；水平分辨力對(duì)比試塊包括第一試塊本體，第一試塊本體包括第一下端面、第一上端面、以及連接第一下端面和第一上端面的第一側(cè)面，第一下端面開設(shè)有多組間隔布置的深度相同且寬度不同的第一矩形槽，每組第一矩形槽包括兩個(gè)寬度相同且間距等于寬度的第一矩形槽，第一上端面包括沿第一矩形槽長度方向順次分布的第一水平接觸面和第一傾斜接觸面，第一水平接觸面與第一下端面平行，第一傾斜接觸面與第一側(cè)面中與第一矩形槽寬度方向平行的第一側(cè)面成角度為待測斜探頭標(biāo)稱角度的夾角。本實(shí)用新型的對(duì)比試塊能夠?qū)崿F(xiàn)直探頭和斜探頭在聲程大于150mm時(shí)的水平和深度分辨力的檢測。