一種插座快速老化測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201920710112.4 申請日 -
公開（公告）號 CN210243812U 公開（公告）日 2020-04-03
申請公布號 CN210243812U 申請公布日 2020-04-03
分類號 G01R31/68(2020.01)I;G01R31/01(2020.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張濤;沈偉;李星晨;江德軍;沈能;姬敏杰;孔祥明;陳燕;蔡美行 申請（專利權(quán)）人 長興博泰電子科技有限公司
代理機構(gòu) 浙江千克知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙衛(wèi)康
地址 313000浙江省湖州市長興縣經(jīng)濟開發(fā)區(qū)南莊路289號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于插座測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種插座快速老化測試裝置。包括：插頭容納腔，用于容納插座的所有插頭；所述插頭容納腔，包括測試正電極、測試負電極和朝上的插座插口；所述測試正電極包括用于與所述插座的正極插頭電接觸的電接觸部，所述測試負電極包括用于與所述插座的負極插頭電接觸的電接觸部；驅(qū)動裝置，用于驅(qū)動所述測試正電極和/或所述測試負電極，使得其電接觸部能夠與所述插座的對應(yīng)插頭電接觸或分離。上述技術(shù)方案中，直接將待測試的插座插頭朝下放入至插頭容納腔，由驅(qū)動裝置驅(qū)動插頭容納腔中的電極靠近或者遠離對應(yīng)的插頭實現(xiàn)測試正、負電極與插座的電接觸，測試過程更加方便。??