電離層閃爍的多徑噪聲干擾量化評估方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111508449.5 申請日 -
公開（公告）號 CN114200490A 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN114200490A 申請公布日 2022-03-18
分類號 G01S19/23（2010.01）I;G01S19/22（2010.01）I;G01S19/21（2010.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳楚天;王岸石;蘇從兵;胡耀坤;楊明;鄭金華 申請（專利權(quán)）人 中電科西北集團有限公司
代理機構(gòu) 西安毅聯(lián)專利代理有限公司 代理人 張為攀
地址 710000陜西省西安市高新區(qū)糜家橋小區(qū)43樓2單元1層2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種電離層閃爍的多徑噪聲干擾量化評估方法及裝置，該方法包括：采集原始數(shù)據(jù)；根據(jù)原始數(shù)據(jù)計算結(jié)果數(shù)據(jù)；構(gòu)建時空坐標(biāo)系，并對時空坐標(biāo)系按照預(yù)設(shè)的方位角步長、仰角步長和觀測時間步長進(jìn)行三維劃分，形成三維統(tǒng)計網(wǎng)格；將結(jié)果數(shù)據(jù)按照方位角、仰角以及所處時間段劃分至三維統(tǒng)計網(wǎng)格作為樣本數(shù)據(jù)集；遍歷樣本數(shù)據(jù)集，使用聚類算法確定三維統(tǒng)計網(wǎng)格的電離層閃爍指數(shù)多徑干擾判定門限。本申請有效的從數(shù)據(jù)樣本中量化出了不同方位角、仰角以及觀測時間范圍內(nèi)受多徑影響的電離層閃爍指數(shù)的多徑干擾判定區(qū)間。