一種質(zhì)譜裝置的處理分析系統(tǒng)及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111081860.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113745090A | 公開(公告)日 | 2021-12-03 |
申請公布號 | CN113745090A | 申請公布日 | 2021-12-03 |
分類號 | H01J49/40(2006.01)I;H01J49/00(2006.01)I;H01J49/02(2006.01)I;H01J49/04(2006.01)I;H01J49/06(2006.01)I;H01J49/24(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 鄭杰;何浩睿;鐘晟;劉佳派;吳小亮;夏文君;劉彬 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳泰萊生物科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市優(yōu)賽朝聞專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 譚育華 |
地址 | 518000廣東省深圳市羅湖區(qū)南湖街道南湖路3009號國貿(mào)商住大廈19D | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種質(zhì)譜裝置的處理分析系統(tǒng),包括進(jìn)樣系統(tǒng)、樣品離子化系統(tǒng)、離子檢測器、數(shù)據(jù)采集卡、控制板和分析軟件;所述進(jìn)樣系統(tǒng)包括進(jìn)樣腔和主體腔,所述樣品腔位置設(shè)有樣品靶;所述樣品離子化系統(tǒng)包括真空系統(tǒng)和離子源,所述真空系統(tǒng)對真空區(qū)域進(jìn)行抽真空;所述離子檢測器用于檢測不同質(zhì)荷比的離子飛行時間;所述數(shù)據(jù)采集卡對離子檢測器輸出的電信號進(jìn)行采集和轉(zhuǎn)換,傳遞至控制板;所述分析軟件安裝在處理器上,所述處理器接收控制板傳輸?shù)臄?shù)據(jù),利用分析軟件進(jìn)行分析。本發(fā)明真空系統(tǒng)可以使得真空區(qū)域內(nèi)的壓強達(dá)到3×10Pa以下,高脈沖激光照射下,有效離子化樣品,檢測限達(dá)1fmol/ul,質(zhì)量檢測準(zhǔn)確性:內(nèi)標(biāo)法精度150ppm,外標(biāo)法精度200ppm。 |
