針對(duì)集成電路電流不失真的磁芯損耗確定方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111212817.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113933598A 公開（公告）日 2022-01-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113933598A 申請(qǐng)公布日 2022-01-14
分類號(hào) G01R27/26（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王芬 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京智芯仿真科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京星通盈泰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李筱
地址 100084北京市海淀區(qū)農(nóng)大南路1號(hào)院5號(hào)樓306室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種針對(duì)集成電路電流不失真的磁芯損耗確定方法及裝置，可包括：向用于集成電路電源系統(tǒng)的電感元件的磁芯中施加具有周期性變化的電流。在電流的作用下，采集磁芯的磁滯回線的多個(gè)特征點(diǎn)，其中磁滯回線表示作用于磁芯的磁場強(qiáng)度和磁芯產(chǎn)生的磁感應(yīng)強(qiáng)度的變化關(guān)系。根據(jù)多個(gè)特征點(diǎn)，確定用于擬合磁滯回線的S曲線的參數(shù)，以獲得磁滯回線的方程。根據(jù)磁滯回線的方程，并基于磁芯損耗的定義，對(duì)所述磁滯回線進(jìn)行積分，以確定磁芯的平均功率損耗。