針對集成電路電流雙向失真的磁芯損耗確定方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111212578.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113933597A 公開（公告）日 2022-01-14
申請公布號 CN113933597A 申請公布日 2022-01-14
分類號 G01R27/26（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王芬 申請（專利權(quán)）人 北京智芯仿真科技有限公司
代理機構(gòu) 北京星通盈泰知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李筱
地址 100084北京市海淀區(qū)農(nóng)大南路1號院5號樓306室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N針對集成電路電流雙向失真的磁芯損耗確定方法，可包括：向用于集成電路電源系統(tǒng)的電感元件的磁芯中施加具有飽和失真波形的電流，其中電流呈周期性變化。在電流的作用下，采集磁芯的磁滯回線的多個特征點，其中磁滯回線表示作用于磁芯的磁場強度和磁芯產(chǎn)生的磁感應強度的變化關(guān)系。根據(jù)多個特征點，確定用于擬合磁滯回線的S曲線的參數(shù)，以獲得磁滯回線的方程。根據(jù)磁滯回線的方程，并基于磁芯損耗的定義，對磁滯回線進行積分，以確定磁芯的平均功率損耗。本申請可避免現(xiàn)有技術(shù)中在直流偏置的情況下，難以準確獲得磁芯損耗的問題，為確定電感元件的磁芯損耗提供了便捷且精確的方式。