一種用于偽距差分定位的誤差修正方法及裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910330429.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110221325B | 公開(公告)日 | 2021-06-04 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN110221325B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-04 |
分類號(hào) | G01S19/41 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 陳孔哲;王獻(xiàn)中;王亮亮;李麗媛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 和芯星通科技(北京)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蔣冬梅;栗若木 |
地址 | 100094 北京市海淀區(qū)豐賢東路7號(hào)北斗星通大廈A301室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種用于偽距差分定位的誤差修正方法,包括:移動(dòng)站接收基準(zhǔn)站發(fā)送的差分改正數(shù)后,計(jì)算基準(zhǔn)站的電離層誤差和對(duì)流層誤差;利用基準(zhǔn)站的電離層誤差和對(duì)流層誤差修正差分改正數(shù),生成無電離層誤差和無對(duì)流層誤差的改正數(shù);在差分定位過程中,計(jì)算自身的電離層誤差和對(duì)流層誤差;利用自身的電離層誤差和對(duì)流層誤差,修正自身的偽距觀測(cè)值中的電離層誤差和對(duì)流程誤差;利用無電離層誤差和無對(duì)流層誤差的改正數(shù),修正偽距觀測(cè)值中剩余的衛(wèi)星軌道誤差和星鐘誤差。 |
