導(dǎo)正檢測裝置及硅片檢測分選設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110516519.5 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113510076A 公開（公告）日 2021-10-19
申請公布號(hào) CN113510076A 申請公布日 2021-10-19
分類號(hào) B07C5/00（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B65G47/24（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 孫靖;曹葵康;胡輝來;顧燁;孫俊;蘇傲;錢春輝;程璧;張?bào)w瑞;溫延培 申請（專利權(quán)）人 蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州國誠專利代理有限公司 代理人 馬振華
地址 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)科技城潯陽江路70號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種導(dǎo)正檢測裝置及硅片檢測分選設(shè)備，其中，導(dǎo)正檢測裝置包括：導(dǎo)正機(jī)構(gòu)、左右崩檢測機(jī)構(gòu)以及輸送帶；所述導(dǎo)正機(jī)構(gòu)包括：第一導(dǎo)正單元、第二導(dǎo)正單元以及驅(qū)動(dòng)單元；所述左右崩檢測機(jī)構(gòu)包括：左檢測單元、右檢測單元以及滑軌。本發(fā)明的第一導(dǎo)正單元、第二導(dǎo)正單元在導(dǎo)正時(shí)由初始位置進(jìn)行相向運(yùn)動(dòng)，進(jìn)而可避免壓壞輸送而來的硅片，有利于減少檢測分選過程中產(chǎn)生的碎片。同時(shí)，兩個(gè)檢測單元能夠沿所在滑軌進(jìn)行位置調(diào)節(jié)，且各檢測單元中的檢測相機(jī)、點(diǎn)激光、光源也能夠獨(dú)立調(diào)節(jié)，有利于實(shí)際運(yùn)行過程中的調(diào)試，提高了檢測的效率。