半導(dǎo)體器件及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110887343.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113410285A | 公開(公告)日 | 2021-09-17 |
申請公布號 | CN113410285A | 申請公布日 | 2021-09-17 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/20(2006.01)I;H01L29/417(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 倪賢鋒;范謙;崔瑩 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州漢驊半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 215000江蘇省蘇州市中國(江蘇)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)蘇州片區(qū)蘇州工業(yè)園區(qū)長陽街259號鐘園工業(yè)坊B0-1F西側(cè) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體器件,包括:依次堆疊的襯底、緩沖層、溝道層、第一勢壘層、刻蝕阻擋層和第二勢壘層以及柵極、源極和漏極,其中,所述第二勢壘層具有n型摻雜且所述第二勢壘層中形成有凹槽,所述柵極位于所述凹槽的底壁上,所述源極和所述漏極位于所述第二勢壘層上。本發(fā)明還提供一種半導(dǎo)體器件的制備方法。本發(fā)明設(shè)置堆疊的第一勢壘層和n型摻雜的第二勢壘層,并且將所述柵極設(shè)置在所述凹槽中,將源極和漏極設(shè)置在所述第二勢壘層上,可以在降低柵極漏電流的同時,降低源極和漏極的接觸電阻以及大幅降低半導(dǎo)體器件的RF色散。 |
