一種可控硅檢測裝置以及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810399017.7 申請日 -
公開（公告）號 CN108957305B 公開（公告）日 2021-04-09
申請公布號 CN108957305B 申請公布日 2021-04-09
分類號 G01R31/327(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 戴訓江 申請（專利權(quán)）人 加碼技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 代理人 郝傳鑫;熊永強
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道松白路關(guān)外小白芒桑泰工業(yè)園三樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例公開了一種可控硅工作狀態(tài)檢測裝置及方法，其中裝置包括：驅(qū)動電路、端電壓檢測電路以及處理器，其中，驅(qū)動電路和檢測電路都與處理器連接；驅(qū)動電路用于在處理器的控制下產(chǎn)生觸發(fā)信號，控制雙向可控硅的導通；端電壓檢測電路用于檢測雙向可控硅第一陽極與第二陽極兩端的端電壓，并根據(jù)端電壓輸出電平信號；處理器用于根據(jù)電平信號以及驅(qū)動電路是否產(chǎn)生觸發(fā)信號，識別雙向可控硅的工作狀態(tài)，其中，所述工作狀態(tài)包括短路狀態(tài)、二極管模式以及開路狀態(tài)。本發(fā)明實施例處理器通過是否產(chǎn)生觸發(fā)雙向可控硅導通的觸發(fā)信號以及雙向可控硅兩端的端電壓，可以識別出雙向可控硅的工作狀態(tài)，以便在雙向可控硅發(fā)生故障時進行報警，保護電路安全。??