集成電路測(cè)試方法與系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010464875.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111751702A | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-10-09 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111751702A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-09 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 宋衛(wèi)權(quán);張健 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 杭州芯訊科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 杭州芯訊科技有限公司 |
| 地址 | 310012浙江省杭州市西湖區(qū)黃姑山路9號(hào)2幢408室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種集成電路測(cè)試方法與系統(tǒng)。所述測(cè)試方法包括：采用測(cè)試配置測(cè)試多個(gè)集成電路以獲得測(cè)試數(shù)據(jù)；以及根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)獲得多個(gè)集成電路的測(cè)試結(jié)果，其中，在測(cè)試步驟中，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)相關(guān)的變更條件實(shí)時(shí)變更測(cè)試配置，測(cè)試配置規(guī)定至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)、以及與至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試激勵(lì)和測(cè)試規(guī)范。通過(guò)對(duì)大量實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)的分析，根據(jù)測(cè)試配置和測(cè)試配置的變更條件，在保有基本測(cè)試配置的基礎(chǔ)上，實(shí)時(shí)變更部分測(cè)試項(xiàng)或測(cè)試激勵(lì)或測(cè)試規(guī)范，無(wú)需通過(guò)變更流程升級(jí)測(cè)試配置即可實(shí)行多種測(cè)試方案，從而支持更加高效的測(cè)試行為，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)試的目的。?? |
