一種基于UVM的SPI驗(yàn)證平臺(tái)及驗(yàn)證方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011488701.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112527723A | 公開（公告）日 | 2021-03-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112527723A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-19 |
| 分類號(hào) | G06F13/42(2006.01)I;G06F11/36(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 魏聰;錢永學(xué);韓青雙;楊智群;孟浩;蔡光杰;黃鑫 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 廣州昂瑞微電子技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李婷婷 |
| 地址 | 510670廣東省廣州市黃埔區(qū)科學(xué)大道18號(hào)A棟1002房 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于UVM的SPI驗(yàn)證平臺(tái)及驗(yàn)證方法，驗(yàn)證平臺(tái)包括：測(cè)試用例庫(kù)，包括多個(gè)測(cè)試用例；虛擬序列庫(kù)，用于調(diào)度一系列測(cè)試序列的執(zhí)行順序，為測(cè)試序列指定序列器；測(cè)試序列庫(kù)，包括多個(gè)測(cè)試序列，測(cè)試序列用于向指定的序列器發(fā)送事務(wù)；配置模塊，用于配置SPI模塊的工作模式；驗(yàn)證環(huán)境，用于封裝所述SPI驗(yàn)證平臺(tái)的驗(yàn)證組件。該SPI驗(yàn)證平臺(tái)將一系列測(cè)試用例放進(jìn)測(cè)試用例庫(kù),可根據(jù)需要選擇需要啟用不同數(shù)量的測(cè)試用例，同時(shí)將一系列測(cè)試序列放進(jìn)測(cè)試序列庫(kù),根據(jù)需要調(diào)用，提高驗(yàn)證平臺(tái)的可重用性；在滿足SPI驗(yàn)證平臺(tái)器可重復(fù)使用的前提下，通過(guò)配置模塊實(shí)現(xiàn)了對(duì)驗(yàn)證平臺(tái)工作模式的精確控制。?? |
