干涉法折射率測定儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN92108381.5 申請日 -
公開（公告）號 CN1077533A 公開（公告）日 1993-10-20
申請公布號 CN1077533A 申請公布日 1993-10-20
分類號 G01N21/45 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐懷方 申請（專利權(quán)）人 上海師大科技開發(fā)總公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 200234上海市桂林路十號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用干涉法測定光學(xué)透明材料特別是高折射率材料和各向異性晶體的折射率絕對值的光學(xué)儀器，它對待測樣品形狀的要求僅是有一對平行的通光平面，它對待測折射率的范圍無限制。它的干涉儀由于使用同光路干涉模式，因而有極好的穩(wěn)定性。由于使用了計(jì)算機(jī)它工作完全是自動(dòng)化的。它測折射率的精度可達(dá)1×10-5。它無需改造便可用來測定連續(xù)激光的波長。它測波長的精度可達(dá)5×10-10cm。