測(cè)試方法、裝置、測(cè)試設(shè)備、被測(cè)設(shè)備、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111292094.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113961471A 公開(kāi)（公告）日 2022-01-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN113961471A 申請(qǐng)公布日 2022-01-21
分類號(hào) G06F11/36（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 郭少軍;李杰;王欣;李鎮(zhèn)江 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海喜日電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張欣欣
地址 201100上海市閔行區(qū)紫星路588號(hào)2幢2093室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的測(cè)試方法、裝置、測(cè)試設(shè)備、被測(cè)設(shè)備、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，方法包括：獲取界面更新數(shù)據(jù)，其中，界面更新數(shù)據(jù)是被測(cè)設(shè)備基于更新后的測(cè)試需求生成；根據(jù)界面更新數(shù)據(jù)，更新測(cè)試界面；更新后的測(cè)試界面包含測(cè)試需求；基于更新后的測(cè)試界面，對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。與現(xiàn)有技術(shù)中一次性開(kāi)發(fā)的測(cè)試界面不同，本發(fā)明實(shí)施例在執(zhí)行測(cè)試之前，可以由被測(cè)設(shè)備基于新增的測(cè)試需求先生成界面更新數(shù)據(jù)，并傳輸給測(cè)試設(shè)備，以使測(cè)試設(shè)備對(duì)測(cè)試界面進(jìn)行更新，從而避免了重新修改界面工作量較大，降低了測(cè)試效率的問(wèn)題。