一種集成電路芯片電源干擾測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022797110.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN214011427U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN214011427U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-20 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/28（2006.01）I;G01R31/40（2014.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 劉靜;郭耀華;陳凝;歐陽(yáng)睿;鄒歡;李秀麗 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 紫光同芯微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100083北京市海淀區(qū)五道口王莊路1號(hào)同方科技廣場(chǎng)D座西樓18層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型提供了一種集成電路芯片電源干擾測(cè)試系統(tǒng)，所述測(cè)試系統(tǒng)包括干擾波形發(fā)生器、計(jì)算機(jī)、智能卡測(cè)試儀、測(cè)試夾具和待測(cè)芯片，其中，干擾波形發(fā)生器具有輸出端，待測(cè)芯片具有電源端，計(jì)算機(jī)連接智能卡測(cè)試儀，智能卡測(cè)試儀連接測(cè)試夾具，干擾波形發(fā)生器連接測(cè)試夾具，待測(cè)芯片連接測(cè)試夾具，干擾波形發(fā)生器的輸出端直接連接待測(cè)芯片的電源端。待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由于在待測(cè)芯片的電源端連續(xù)加入電壓±3V的脈沖波干擾信號(hào)，經(jīng)過(guò)N遍的順次擦操作、寫(xiě)操作、讀操作后，撤除脈沖波干擾信號(hào)，直接通過(guò)智能卡測(cè)試儀確認(rèn)待測(cè)芯片工作狀態(tài)，且該測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法，操作方法簡(jiǎn)單易于實(shí)現(xiàn)，能夠顯著提高待測(cè)芯片的測(cè)試效率。 |
