一種集成電路芯片電源干擾測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022797110.9 申請日 -
公開（公告）號 CN214011427U 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN214011427U 申請公布日 2021-08-20
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R31/40（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉靜;郭耀華;陳凝;歐陽睿;鄒歡;李秀麗 申請（專利權(quán)）人 紫光同芯微電子有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 100083北京市海淀區(qū)五道口王莊路1號同方科技廣場D座西樓18層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種集成電路芯片電源干擾測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括干擾波形發(fā)生器、計算機、智能卡測試儀、測試夾具和待測芯片，其中，干擾波形發(fā)生器具有輸出端，待測芯片具有電源端，計算機連接智能卡測試儀，智能卡測試儀連接測試夾具，干擾波形發(fā)生器連接測試夾具，待測芯片連接測試夾具，干擾波形發(fā)生器的輸出端直接連接待測芯片的電源端。待測芯片進行測試時，由于在待測芯片的電源端連續(xù)加入電壓±3V的脈沖波干擾信號，經(jīng)過N遍的順次擦操作、寫操作、讀操作后，撤除脈沖波干擾信號，直接通過智能卡測試儀確認(rèn)待測芯片工作狀態(tài)，且該測試系統(tǒng)及其測試方法，操作方法簡單易于實現(xiàn)，能夠顯著提高待測芯片的測試效率。