一種半絕緣GaN薄膜及其制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201610496530.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN107546260A | 公開(公告)日 | 2018-01-05 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN107546260A | 申請(qǐng)公布日 | 2018-01-05 |
分類號(hào) | H01L29/20(2006.01)I;H01L29/207(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;C30B25/02(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 陳振 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江西省昌大光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 330096 江西省南昌市高新區(qū)艾溪北路699號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種半絕緣GaN薄膜及其制備方法,其中,在該半絕緣GaN薄膜中從下至上依次包括襯底、緩沖層、GaN模板層以及GaN薄膜層,其中,所述GaN薄膜層為摻雜有碳和鐵的半絕緣GaN薄膜層。該半絕緣GaN薄膜品質(zhì)高、純度高,雜質(zhì)的記憶效應(yīng)小,絕緣性能好,能有效的減少器件的漏電流。 |
