半絕緣GaN薄膜及高電子遷移率晶體管外延結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201610497006.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN107546261A | 公開(kāi)(公告)日 | 2018-01-05 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN107546261A | 申請(qǐng)公布日 | 2018-01-05 |
分類號(hào) | H01L29/20(2006.01)I;H01L29/207(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 周名兵;陳振 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江西省昌大光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 330096 江西省南昌市高新區(qū)艾溪北路699號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種半絕緣GaN薄膜及高電子遷移率晶體管外延結(jié)構(gòu),其中,該半絕緣GaN薄膜為碳和鐵摻雜的半絕緣GaN薄膜層,其中,碳的摻雜濃度范圍為1×1016cm?3~1×1020cm?3;鐵的摻雜濃度范圍為1×1016cm?3~1×1020cm?3。本發(fā)明操作方法簡(jiǎn)單、成本低、工作效率高,通過(guò)該方法制備的半絕緣GaN品質(zhì)高、純度高,對(duì)雜質(zhì)的記憶效應(yīng)小,絕緣性能好,并能有效的減少漏電流。 |
