用于芯片測試的頂針
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202021615215.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212780931U | 公開（公告）日 | 2021-03-23 |
| 申請公布號 | CN212780931U | 申請公布日 | 2021-03-23 |
| 分類號 | G01R1/067(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 秦超 | 申請（專利權(quán)）人 | 安徽超元半導體有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 合肥市浩智運專利代理事務所（普通合伙） | 代理人 | 花錦濤 |
| 地址 | 247000安徽省池州市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)電子信息產(chǎn)業(yè)園17號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型涉及芯片檢測領(lǐng)域，具體涉及一種用于芯片測試的頂針，包括針管，針管的第一端設置針頭套管，所述針頭套管中滑動安裝針頭，所述針頭的第一端從針頭套管第一端伸出，且針頭的第二端位于針管中；所述針管中設置有彈性體，彈性體頂在針頭的第二端。本實用新型的優(yōu)點在于：當針頭受力收縮時，針頭套管對其起到引導作用，進而減小針頭的擺動幅度，以免影響測試結(jié)果，且其結(jié)構(gòu)、原理較為簡單。?? |
