一種晶片中測階段測試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201620570379.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN205749808U | 公開（公告）日 | 2016-11-30 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN205749808U | 申請(qǐng)公布日 | 2016-11-30 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 孫進(jìn)軍;周毅;賈金輝;陳冬冬 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 蘇州微控智芯半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 西安利澤明知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蘇州微控智芯半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 地址 | 214122 江蘇省無錫市濱湖區(qū)錦溪路100號(hào)創(chuàng)業(yè)園9號(hào)樓501 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種晶片中測階段測試系統(tǒng)，包括產(chǎn)生測試激勵(lì)文件裝置、測試機(jī)臺(tái)、芯片,晶片測試時(shí)，產(chǎn)生測試激勵(lì)文件裝置產(chǎn)生測試激勵(lì)文件傳輸給測試機(jī)臺(tái)，測試機(jī)臺(tái)與芯片相連接。具有如下有益效果:(1)通過在晶片中測階段加入晶片測試系統(tǒng)，省去了成測階段的功能與性能測試，能有效的縮短測試周期，降低封裝成本；(2)省去了芯片成測為了進(jìn)行芯片的功能和性能測試而在芯片成測階段給測試機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)復(fù)雜的測試接口板。 |
