一種晶片中測階段測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620570379.4 申請日 -
公開（公告）號 CN205749808U 公開（公告）日 2016-11-30
申請公布號 CN205749808U 申請公布日 2016-11-30
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫進軍;周毅;賈金輝;陳冬冬 申請（專利權(quán)）人 蘇州微控智芯半導體科技有限公司
代理機構(gòu) 西安利澤明知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 蘇州微控智芯半導體科技有限公司
地址 214122 江蘇省無錫市濱湖區(qū)錦溪路100號創(chuàng)業(yè)園9號樓501
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種晶片中測階段測試系統(tǒng)，包括產(chǎn)生測試激勵文件裝置、測試機臺、芯片,晶片測試時，產(chǎn)生測試激勵文件裝置產(chǎn)生測試激勵文件傳輸給測試機臺，測試機臺與芯片相連接。具有如下有益效果:(1)通過在晶片中測階段加入晶片測試系統(tǒng)，省去了成測階段的功能與性能測試，能有效的縮短測試周期，降低封裝成本；(2)省去了芯片成測為了進行芯片的功能和性能測試而在芯片成測階段給測試機臺設(shè)計復雜的測試接口板。