半導(dǎo)體激光芯片低溫Bar條測試機

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921540612.4 申請日 -
公開（公告）號 CN210513626U 公開（公告）日 2020-05-12
申請公布號 CN210513626U 申請公布日 2020-05-12
分類號 G01M11/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 杜海洋 申請（專利權(quán)）人 河北圣源光電有限公司
代理機構(gòu) 北京德崇智捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 賀征華
地址 050200 河北省石家莊市鹿泉經(jīng)濟開發(fā)區(qū)昌盛大街21號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了半導(dǎo)體激光芯片低溫Bar條測試機，包括機箱、溫控箱和激光打標(biāo)臺，機箱的頂端固定安裝有溫控箱，溫控箱與機箱之間活動安裝有轉(zhuǎn)盤，溫控箱的頂端中部固定安裝有驅(qū)動電機，驅(qū)動電機的底端傳動連接有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸貫穿于溫控箱內(nèi)，并與轉(zhuǎn)盤卡接，溫控箱的頂端邊側(cè)活動安裝有六個箱門，本實用新型，在工作時，工作人員可啟動并控制驅(qū)動電機運行，從而使得轉(zhuǎn)軸帶動轉(zhuǎn)盤進行轉(zhuǎn)動，使得bar條逐依接觸觸頭，從而控制激光打標(biāo)臺進行激光雕刻工作，在該過程中，可通過控制溫控箱來嘗試不同溫度下bar條的工作效果，從而在測試bar條工作狀態(tài)的同時，找到最適合相應(yīng)bar條的工作溫度，以方便調(diào)控bar條在工作中發(fā)揮出最大效率。