一種用于芯片測試的高效率篩分機(jī)臺
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202020009083.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212310123U | 公開（公告）日 | 2021-01-08 |
| 申請公布號 | CN212310123U | 申請公布日 | 2021-01-08 |
| 分類號 | B07C5/02(2006.01)I | 分類 | 將固體從固體中分離；分選; |
| 發(fā)明人 | 張聶麟;楊剛能;陳金迪 | 申請（專利權(quán)）人 | 浙江金華凱宇電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 浙江專橙律師事務(wù)所 | 代理人 | 朱孔妙 |
| 地址 | 321200 浙江省金華市武義縣科技城凱宇微電子產(chǎn)業(yè)園檢驗(yàn)車間大樓A棟（自主申報(bào)） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種用于芯片測試的高效率篩分機(jī)臺，其包括底座；在所述的底座上方兩側(cè)設(shè)有支撐架；所述的支撐架內(nèi)側(cè)設(shè)有顯示屏；所述的底座中部設(shè)有旋轉(zhuǎn)圓臺；所述的旋轉(zhuǎn)圓臺頂部連接有C字型連接桿；所述的連接桿兩端均連接有芯片傳送圓臺；所述的芯片傳送圓臺頂部設(shè)有測試箱體；所述的測試箱體內(nèi)部被均勻分割成兩個(gè)空間，每個(gè)空間均設(shè)有一個(gè)測試器；所述的支撐架上分別設(shè)于高低溫箱體和干燥塔；本實(shí)用新型能夠同時(shí)進(jìn)行高低溫測試和上下料工作，出現(xiàn)測試異常情況時(shí)，可快速篩分異常件，提高工作效率。?? |
