一種多元環(huán)境數(shù)據(jù)校驗方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110234647.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112905577A | 公開(公告)日 | 2021-06-04 |
申請公布號 | CN112905577A | 申請公布日 | 2021-06-04 |
分類號 | G06F16/215 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 郭建華 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州天時億科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京竹辰知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 陳龍 |
地址 | 311200 浙江省杭州市蕭山區(qū)蕭山經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)啟迪路198號A-B102-784室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種多元環(huán)境數(shù)據(jù)校驗方法及系統(tǒng)。其中,該方法包括:獲取第一待校驗環(huán)境數(shù)據(jù);將所述第一待校驗環(huán)境數(shù)據(jù)進行優(yōu)化處理,生成第二待校驗環(huán)境數(shù)據(jù);根據(jù)所述第二待校驗環(huán)境數(shù)據(jù),獲取基準校驗參數(shù);根據(jù)所述基準校驗參數(shù)對所述第二帶校驗環(huán)境數(shù)據(jù)進行校驗,得到校驗結(jié)果。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中直接對校驗的原始數(shù)據(jù)進行處理,增加了校驗難度,降低了校驗準確性的技術(shù)問題。 |
