周期柵陣的周期長(zhǎng)度的測(cè)量方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010952617.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN112050741A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-07-16 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112050741A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-16 |
分類(lèi)號(hào) | G01B11/02 | 分類(lèi) | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 李紅浪 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 廣東廣納芯科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 鄧曄;張?chǎng)?/td> |
地址 | 510700 廣東省廣州市黃埔區(qū)開(kāi)源大道136號(hào)D棟1004室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于對(duì)周期陣列結(jié)構(gòu)中的周期柵陣進(jìn)行測(cè)量的測(cè)量方法,包括:獲取所述周期陣列結(jié)構(gòu)的圖像并獲取所述圖像的像素間距值;在所述圖像上繪制覆蓋多個(gè)所述周期柵陣的測(cè)量線(xiàn);確定所述測(cè)量線(xiàn)上至少一部分像素的坐標(biāo)值和圖像特征值、以及所述測(cè)量線(xiàn)的斜率;利用所述坐標(biāo)值和所述圖像特征值,利用擬合函數(shù)來(lái)計(jì)算得到所述測(cè)量線(xiàn)的空間圓頻率;利用所述像素間距值和所述空間圓頻率,來(lái)計(jì)算得到所述測(cè)量線(xiàn)的延伸方向上的測(cè)量線(xiàn)周期長(zhǎng)度;以及基于所述測(cè)量線(xiàn)的斜率、以及所述測(cè)量線(xiàn)周期長(zhǎng)度來(lái)計(jì)算所述周期柵陣的實(shí)際周期長(zhǎng)度。 |
