質(zhì)控/校準(zhǔn)測(cè)試方法、樣本分析儀及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910277904.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111796106A | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-10-20 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111796106A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-20 |
| 分類號(hào) | G01N35/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 許華明;張震 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 成都深邁瑞醫(yī)療電子技術(shù)研究院有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王姍姍;張穎玲 |
| 地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)拓新東街81號(hào)天府軟件園C區(qū)10號(hào)樓18層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種質(zhì)控/校準(zhǔn)測(cè)試方法、一種樣本分析儀及一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，樣本分析儀包括具有多個(gè)試劑保存位并且構(gòu)成用于冷藏試劑的試劑倉(cāng)，在該試劑倉(cāng)內(nèi)還設(shè)有質(zhì)控/校準(zhǔn)品保存位，該質(zhì)控/校準(zhǔn)測(cè)試方法包括：獲取對(duì)待測(cè)質(zhì)控/校準(zhǔn)品的質(zhì)控/校準(zhǔn)測(cè)試指令；獲取待測(cè)質(zhì)控/校準(zhǔn)品的特征信息以及獲取待測(cè)質(zhì)控/校準(zhǔn)品所在的質(zhì)控/校準(zhǔn)品保存位的位置信息；根據(jù)特征信息和位置信息，控制吸樣針移動(dòng)到待測(cè)質(zhì)控/校準(zhǔn)品所在的質(zhì)控/校準(zhǔn)品保存位處吸取指定量的待測(cè)質(zhì)控/校準(zhǔn)品；利用指定量的待測(cè)質(zhì)控/校準(zhǔn)品進(jìn)行質(zhì)控/校準(zhǔn)測(cè)試。?? |
