質(zhì)控/校準(zhǔn)測試方法、樣本分析儀及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910277904.1 申請日 -
公開（公告）號 CN111796106A 公開（公告）日 2020-10-20
申請公布號 CN111796106A 申請公布日 2020-10-20
分類號 G01N35/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 許華明;張震 申請（專利權(quán)）人 成都深邁瑞醫(yī)療電子技術(shù)研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王姍姍;張穎玲
地址 610000四川省成都市高新區(qū)拓新東街81號天府軟件園C區(qū)10號樓18層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了一種質(zhì)控/校準(zhǔn)測試方法、一種樣本分析儀及一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，樣本分析儀包括具有多個試劑保存位并且構(gòu)成用于冷藏試劑的試劑倉，在該試劑倉內(nèi)還設(shè)有質(zhì)控/校準(zhǔn)品保存位，該質(zhì)控/校準(zhǔn)測試方法包括：獲取對待測質(zhì)控/校準(zhǔn)品的質(zhì)控/校準(zhǔn)測試指令；獲取待測質(zhì)控/校準(zhǔn)品的特征信息以及獲取待測質(zhì)控/校準(zhǔn)品所在的質(zhì)控/校準(zhǔn)品保存位的位置信息；根據(jù)特征信息和位置信息，控制吸樣針移動到待測質(zhì)控/校準(zhǔn)品所在的質(zhì)控/校準(zhǔn)品保存位處吸取指定量的待測質(zhì)控/校準(zhǔn)品；利用指定量的待測質(zhì)控/校準(zhǔn)品進(jìn)行質(zhì)控/校準(zhǔn)測試。??