一種γ輻射場劑量率快速測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200910091590.2 申請日 -
公開（公告）號 CN101644779A 公開（公告）日 2010-02-10
申請公布號 CN101644779A 申請公布日 2010-02-10
分類號 G01T1/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄧長明;任熠;張世讓;杜向陽;張佳;程昶;孟丹;劉蕓;王志剛;侯磊 申請（專利權(quán)）人 山西中輻科技有限公司
代理機構(gòu) 北京天悅專利代理事務(wù)所 代理人 田明;任曉航
地址 030006山西省太原市學(xué)府街102號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種γ輻射場劑量率快速測量方法，屬于輻射場測量技術(shù)領(lǐng)域。現(xiàn)有的方法對輻射場變化后響應(yīng)的速度較慢，從而影響了測量速度和準確性。本發(fā)明所述方法在現(xiàn)有劑量率滑動平均算法的基礎(chǔ)上，增加了輻射場水平的判斷，將輻射場水平作為本次測量結(jié)束的標(biāo)志，不僅實現(xiàn)了劑量率快速測量，而且加快了對輻射場變化的響應(yīng)時間，使測量結(jié)果更加準確。