一種顯示芯片測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110380838.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112881902A 公開（公告）日 2021-06-01
申請公布號 CN112881902A 申請公布日 2021-06-01
分類號 G01R31/28;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳弈星;吳慶飛 申請（專利權(quán)）人 南京芯視元電子有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張洋
地址 210000 江蘇省南京市江北新區(qū)星火路14號長峰大廈1號試驗樓201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種顯示芯片測試設(shè)備，涉及顯示芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，包括：處理器與顯卡模塊電連接，顯卡模塊與圖像存儲模塊電連接，在電路板上還設(shè)置有與顯卡模塊連接的測試接口，在測試時，可以將已封裝顯示芯片插接于殼體上的測試接口，使得顯卡模塊能夠調(diào)取圖像存儲模塊中預(yù)先存儲的數(shù)據(jù)信息然后由顯卡模塊驅(qū)動已封裝顯示芯片顯示對應(yīng)的圖像，完成對已封裝顯示芯片的顯示特性的驗證，從而判斷其是否合格，進而確保出廠后的已封裝顯示芯片正常的顯示特性，進而提高產(chǎn)品出廠時的質(zhì)量。同時，通過顯示芯片測試設(shè)備對已封裝顯示芯片進行顯示特性測試時，能夠通過處理器、顯卡模塊等配合測試程序進行自動化的測試，從而可以提高測試效率。