半導(dǎo)體構(gòu)件
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201822021968.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN208889687U | 公開(公告)日 | 2019-05-21 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN208889687U | 申請(qǐng)公布日 | 2019-05-21 |
分類號(hào) | H01L33/02;H01L33/12;H01L33/00 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 陳辰;宋杰;崔周源 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 西安賽富樂斯半導(dǎo)體科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京金訊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 黃劍飛 |
地址 | 277300 山東省棗莊市高新區(qū)復(fù)元三路智能制造小鎮(zhèn)五號(hào)樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本公開涉及一種半導(dǎo)體構(gòu)件,其包括:含有半極性面的PSS襯底;第一GaN半導(dǎo)體層,外延生長(zhǎng)在PSS襯底的半極性面,具有第一厚度,所述第一GaN半導(dǎo)體層中具有在其穿透位錯(cuò)處通過刻蝕而形成的空腔,并且所述空腔的深度小于第一厚度;以及第二GaN半導(dǎo)體層,外延生長(zhǎng)在第一GaN半導(dǎo)體層表面上,具有第二厚度,所述第二GaN半導(dǎo)體層封閉第一GaN半導(dǎo)體層內(nèi)的刻蝕空腔。 |
