測試電路、測試設(shè)備以及測試電路測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110483061.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113176487A 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN113176487A 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳躍俊 申請（專利權(quán)）人 北京華峰測控技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京華進京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 樊春燕
地址 100071北京市豐臺區(qū)海鷹路1號院2號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例提供一種測試電路、測試設(shè)備以及測試電路測試方法。測試電路包括電源、二極管、電感、第一開關(guān)、第二開關(guān)和測試端。二極管的陰極與電源的正極連接。電感包括第一端和第二端。電感的第一端與二極管的陽極連接。第一開關(guān)的一端與電源的正極連接。第一開關(guān)的另一端與電感的第二端連接。第二開關(guān)的一端與二極管的陽極連接。第二開關(guān)的另一端與電源的負極連接。測試端的一端與電感的第二端連接。測試端的另一端與電源的負極連接。測試端用于插接功率二極管。電感中的電流可以在電感、二極管、電源和功率二極管形成回路中快速釋放。電感中的電流能夠快速降低到零。因此測試電路可以快速啟動第二次測試，大大提高測試效率。