任意波形格式生成方法、裝置、測試設(shè)備和存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110271551.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112924854A 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN112924854A 申請公布日 2021-06-08
分類號 G01R31/3181;G01R31/3183;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭憲超;陳良;石培杰;姚健 申請（專利權(quán)）人 北京華峰測控技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京華進京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 馬云超
地址 100071 北京市豐臺區(qū)海鷹路1號院2號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種任意波形格式生成方法、裝置、測試設(shè)備和存儲介質(zhì)。所述方法包括：獲取波形讀取指令，根據(jù)該波形讀取指令讀取波形數(shù)據(jù)序列；獲取最小波形格式單元信息；根據(jù)該最小波形格式單元信息和該波形數(shù)據(jù)序列拼接出目標(biāo)波形。該方法只用通過所需的最小波形格式單元信息和波形數(shù)據(jù)序列就可以拼接出任意所需波形，滿足量產(chǎn)芯片的測試需求，提高了測試效率。