測試電路、測試設備以及測試電路測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110485132.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113176489A 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN113176489A 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳躍俊;郝瑞庭 申請（專利權）人 北京華峰測控技術股份有限公司
代理機構 北京華進京聯(lián)知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 馬云超
地址 100071北京市豐臺區(qū)海鷹路1號院2號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例提供一種測試電路、測試設備以及測試電路測試方法。測試電路包括電源、第一開關、第二開關、電感、二極管和測試端。所述第一開關和第二開關依次串聯(lián)于所述電源的正極和負極之間。所述第一開關和所述第二開關依次串聯(lián)于所述電源的正極和負極之間。所述電感包括第一端和第二端。所述電感的第一端連接于所述第一開關和所述第二開關之間。所述二極管的陰極連接于所述電源的正極。所述二極管的陽極連接于所述電感的第二端。所述測試端的一端與所述電感的第二端連接。所述測試端的另一端與所述電源的負極連接。所述測試端用于測試被測IGBT芯片。