一種氧化鎵功率器件鈍化層及其鈍化方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011597461.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN112635409A | 公開(公告)日 | 2021-04-09 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112635409A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-09 |
分類號(hào) | H01L23/29;H01L21/56 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 趙浩男;徐瀟迪;武錦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 中科芯(蘇州)微電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京禾易知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 翁亞娜 |
地址 | 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城1幢505、507 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種氧化鎵功率器件鈍化層及其鈍化方法,屬于半導(dǎo)體功率器件技術(shù)領(lǐng)域,其中氧化鎵功率器件鈍化層的制備方法,包括:形成Ga2O3外延層;在所述Ga2O3外延層表面形成SIPOS鈍化層;在所述SIPOS鈍化層上形成氧化鎵功率器件鈍化層。也就是說,本發(fā)明通過在Ga2O3外延層表面形成摻氧多晶硅鈍化層的方式,可有效屏蔽現(xiàn)有鈍化工藝引入的缺陷、陷阱等因素對(duì)氧化鎵功率器件終端性能的影響,從而提升了器件終端區(qū)鈍化層的質(zhì)量,減小界面態(tài)、界面陷阱、界面電荷等因素對(duì)器件終端結(jié)構(gòu)的影響,也提升了器件性能,結(jié)構(gòu)簡單,工藝簡單,能耗低,從而大大提高了制備氧化鎵功率器件的高效性和可靠性,也提高了氧化鎵功率器件的使用壽命。 |
