一米光柵攝譜儀電極結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202121552470.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN215178154U 公開（公告）日 2021-12-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN215178154U 申請(qǐng)公布日 2021-12-14
分類號(hào) G01J3/40（2006.01）I;G01J3/02（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉曉偉;任志強(qiáng);孟志字;孟晉斌 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 太原華盛豐貴金屬材料有限公司
代理機(jī)構(gòu) 太原晉科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 王瑞玲
地址 030499山西省太原市清徐縣陽煤集團(tuán)太原化工新材料公司園區(qū)南區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型屬于攝譜儀金屬檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種一米光柵攝譜儀電極結(jié)構(gòu)。包括圓柱體結(jié)構(gòu)的下電極和圓柱體結(jié)構(gòu)的上電極，所述的下電極上部連接有第一起弧端，第一起弧端上部設(shè)置有用于放置貴金屬粉末的放置槽，放置槽的直徑為D；所述的上電極下部連接有第二起弧端，第二起弧端與上電極連接的一端與上電極的直徑相同，第二起弧端與下電極起弧的一端的直徑為d，d小于上電極的直徑相同，且d＜D。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)了一種新型的電極結(jié)構(gòu)，用來進(jìn)行一米平面光柵攝譜儀測(cè)定貴金屬中雜質(zhì)含量。不僅提高了工作效率，并且降低了分析成本。