一種液晶屏外觀缺陷檢測方法、裝置及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110726191.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113409290A 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN113409290A 申請公布日 2021-09-17
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06K9/46（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 靳松;張蓮蓮;田永軍;徐博超;陶平;李偉 申請（專利權(quán)）人 北京兆維電子（集團）有限責任公司
代理機構(gòu) 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 尉保芳
地址 100015北京市朝陽區(qū)酒仙橋路14號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種液晶屏外觀缺陷檢測方法、裝置及存儲介質(zhì)，方法包括：導入待處理圖像集，并逐一對待處理圖像集中的待處理圖像進行圖像預(yù)處理，集合預(yù)處理后的所有圖像得到圖像訓練集，構(gòu)建訓練模型，并根據(jù)圖像訓練集對訓練模型進行模型優(yōu)化，得到檢測模型，導入待檢測圖像，根據(jù)檢測模型對待檢測圖像進行檢測，得到液晶屏外觀是否存在缺陷的檢測結(jié)果。本發(fā)明避免了人工設(shè)計復(fù)雜的算法流程，大大降低了研發(fā)困難度，并且有著極高的魯棒性和精度。