基于機(jī)器學(xué)習(xí)的原位電子衍射數(shù)據(jù)處理分析方法及應(yīng)用

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011521136.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114646653A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114646653A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G01N23/20058（2018.01）I;G01N23/2055（2018.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/762（2022.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/60（2017.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蘇東;葛夢舒;劉效治;蘇菲;趙志誠 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院物理研究所
代理機(jī)構(gòu) 北京市英智偉誠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 100190北京市海淀區(qū)中關(guān)村南三街8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)的原位電子衍射數(shù)據(jù)處理分析方法及應(yīng)用，該方法包括：單幀電子衍射圖中心的自動標(biāo)定，衍射斑點(diǎn)的自動檢測和跟蹤，衍射環(huán)的計(jì)算和標(biāo)定，以及針對單個(gè)衍射斑點(diǎn)的徑向半徑、亮暗襯度和切向角度變化的數(shù)據(jù)存儲和分析方法。本發(fā)明結(jié)合了機(jī)器學(xué)習(xí)、圖像處理等方法，實(shí)現(xiàn)了對于原位電子衍射數(shù)據(jù)中每一幀電子衍射花樣中的每一個(gè)衍射斑點(diǎn)的定性分析和定量計(jì)算。