基于機(jī)器學(xué)習(xí)的原位電子衍射數(shù)據(jù)處理分析方法及應(yīng)用
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011521136.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114646653A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-06-21 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114646653A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-21 |
| 分類號(hào) | G01N23/20058（2018.01）I;G01N23/2055（2018.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/762（2022.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/60（2017.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 蘇東;葛夢(mèng)舒;劉效治;蘇菲;趙志誠(chéng) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 中國(guó)科學(xué)院物理研究所 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京市英智偉誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 100190北京市海淀區(qū)中關(guān)村南三街8號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)的原位電子衍射數(shù)據(jù)處理分析方法及應(yīng)用，該方法包括：?jiǎn)螏娮友苌鋱D中心的自動(dòng)標(biāo)定，衍射斑點(diǎn)的自動(dòng)檢測(cè)和跟蹤，衍射環(huán)的計(jì)算和標(biāo)定，以及針對(duì)單個(gè)衍射斑點(diǎn)的徑向半徑、亮暗襯度和切向角度變化的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和分析方法。本發(fā)明結(jié)合了機(jī)器學(xué)習(xí)、圖像處理等方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)于原位電子衍射數(shù)據(jù)中每一幀電子衍射花樣中的每一個(gè)衍射斑點(diǎn)的定性分析和定量計(jì)算。 |
