太赫茲頻譜單發(fā)測量裝置和應用

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011501359.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114646389A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114646389A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G01J3/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 廖國前;王丹;李玉同 申請（專利權(quán)）人 中國科學院物理研究所
代理機構(gòu) 北京市英智偉誠知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 -
地址 100190北京市海淀區(qū)中關(guān)村南三街8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種太赫茲頻譜單發(fā)測量裝置，包括多通道濾波器、成像系統(tǒng)和探測器，所述多通道濾波器為薄片狀，由若干濾波通道構(gòu)成，每個濾波通道分別對應不同太赫茲頻率，所述成像系統(tǒng)無色散，可將通過多通道濾波器的太赫茲成像到探測器上，將所述探測器為面陣，可探測太赫茲的二維強度分布。使用時，使待測太赫茲光束垂直于多通道濾波器入射，透過多通道濾波器，經(jīng)過成像系統(tǒng)，到達探測器上，統(tǒng)計通過每個濾波通道后的太赫茲強度值，分別除以事先標定的通道濾波效率，得到每個濾波通道所對應太赫茲頻率的強度值，進而得到所測太赫茲的頻譜。還提供了其應用。本發(fā)明裝置結(jié)構(gòu)簡單，易于實施，可在單發(fā)條件下測得太赫茲的頻譜。