納米量級物體探測方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111133386.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113567441A 公開（公告）日 2021-10-29
申請公布號 CN113567441A 申請公布日 2021-10-29
分類號 G01N21/84（2006.01）I;G01B11/24（2006.01）I;G02B21/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳征宇 申請（專利權(quán)）人 板石智能科技（武漢）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢智嘉聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黃君軍
地址 430000湖北省武漢市東湖開發(fā)區(qū)關(guān)山一路1號華中曙光軟件園恒隆大樓F幢207號（自貿(mào)區(qū)武漢片區(qū)）（一址多照）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種納米量級物體探測方法、設(shè)備及存儲介質(zhì)，其方法包括：獲取沿光軸對待測物體進(jìn)行離焦掃描得到的多幅強(qiáng)度圖像，基于所述強(qiáng)度圖像進(jìn)行有限數(shù)值差分得到探測光的光強(qiáng)的一階軸向微分；建立散射力、功與光強(qiáng)的一階軸向微分之間的關(guān)系式；將探測光的光強(qiáng)的一階軸向微分代入所述關(guān)系式，得到待測物體對探測光的散射力以及功，從而實(shí)現(xiàn)待測物體的探測。本申請具有探測效率高、靈敏度高的技術(shù)效果。