納米量級(jí)物體探測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111133386.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113567441B 公開(kāi)（公告）日 2021-12-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN113567441B 申請(qǐng)公布日 2021-12-28
分類號(hào) G01N21/84（2006.01）I;G01B11/24（2006.01）I;G02B21/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 吳征宇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 板石智能科技（武漢）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢智嘉聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黃君軍
地址 430000湖北省武漢市東湖開(kāi)發(fā)區(qū)關(guān)山一路1號(hào)華中曙光軟件園恒隆大樓F幢207號(hào)（自貿(mào)區(qū)武漢片區(qū)）（一址多照）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及一種納米量級(jí)物體探測(cè)方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，其方法包括：獲取沿光軸對(duì)待測(cè)物體進(jìn)行離焦掃描得到的多幅強(qiáng)度圖像，基于所述強(qiáng)度圖像進(jìn)行有限數(shù)值差分得到探測(cè)光的光強(qiáng)的一階軸向微分；建立散射力、功與光強(qiáng)的一階軸向微分之間的關(guān)系式；將探測(cè)光的光強(qiáng)的一階軸向微分代入所述關(guān)系式，得到待測(cè)物體對(duì)探測(cè)光的散射力以及功，從而實(shí)現(xiàn)待測(cè)物體的探測(cè)。本申請(qǐng)具有探測(cè)效率高、靈敏度高的技術(shù)效果。