一種交流發(fā)光芯片的老化測試方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610785909.1 申請日 -
公開（公告）號 CN106443409A 公開（公告）日 2017-02-22
申請公布號 CN106443409A 申請公布日 2017-02-22
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李克堅;桑鈞晟 申請（專利權(quán)）人 中山昂欣科技有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 中山市高端專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 中山昂欣科技有限責(zé)任公司
地址 528400 廣東省中山市翠亨新區(qū)臨海工業(yè)園翠城道臨海廠房C棟第一層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種交流發(fā)光芯片的老化測試方法和裝置，其包括：框架；散熱器，該散熱器安裝在框架內(nèi)，散熱器上表面設(shè)有若干設(shè)有可放置被測發(fā)光芯片的測試平臺；固定架，該固定架可扣合在框架上，且固定架與測試平臺相對的表面設(shè)有若干頂針；以及設(shè)于散熱器底部的散熱風(fēng)扇，通過該散熱風(fēng)扇可對散熱器強制散熱；采用本發(fā)明公開的測試方法和裝置測試發(fā)光芯片具有安全、方便、效率高的特點。