一種交流發(fā)光芯片的老化測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201621017843.3 申請日 -
公開（公告）號 CN206096187U 公開（公告）日 2017-04-12
申請公布號 CN206096187U 申請公布日 2017-04-12
分類號 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 桑鈞晟;李克堅;陳新苗 申請（專利權(quán)）人 中山昂欣科技有限責任公司
代理機構(gòu) 廣州嘉權(quán)專利商標事務所有限公司 代理人 中山昂欣科技有限責任公司
地址 528400 廣東省中山市翠亨新區(qū)臨海工業(yè)園翠城道臨海廠房C棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種交流發(fā)光芯片的老化測試裝置，其包括：框架；散熱器，該散熱器安裝在框架內(nèi)，散熱器上表面設有若干可放置被測發(fā)光芯片的測試平臺；固定架，該固定架可扣合在框架上，且固定架與測試平臺相對的表面設有若干頂針；以及設于散熱器底部的散熱風扇，通過該散熱風扇可對散熱器強制散熱；采用本實用新型公開的測試裝置測試發(fā)光芯片具有安全、方便、效率高的特點。