基于動態(tài)步長的模擬電路可靠性仿真方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210444048.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114692542A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114692542A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G06F30/367（2020.01）I;G06F17/10（2006.01）I;G06F119/02（2020.01）N;G06F119/12（2020.01）N 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 李聰;董嘯宇;呂松松;成善霖;游海龍 申請（專利權(quán)）人 西安電子科技大學(xué)
代理機(jī)構(gòu) 陜西電子工業(yè)專利中心 代理人 -
地址 710071陜西省西安市太白南路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于動態(tài)步長的模擬電路可靠性仿真方法，主要解決現(xiàn)有技術(shù)不能貼合器件實際退化情況，仿真精度和速度不能兼顧的問題。其實現(xiàn)方案是：從電路仿真輸入文件中讀取設(shè)定的退化時間T及s個步長；計算初始步長時間t0＝T/s,并將其賦值給各步長；輸入器件退化模型函數(shù)，計算其隨時間的退化速率函數(shù)f（t）；通過器件退化函數(shù)在不同時刻的退化速率f（t）對s個值為t0的步長進(jìn)行放縮計算，得到一組動態(tài)步長；使用動態(tài)步長進(jìn)行電路可靠性仿真，得到電路特征指標(biāo)的退化結(jié)果。本發(fā)明提高了可靠性仿真精度，并通過設(shè)置仿真的步長數(shù)量，使得可靠性仿真時間變得預(yù)算可控，可用于預(yù)測電路性能隨時間的退化關(guān)系及電路的壽命。