一種環(huán)狀物缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911355932.7 申請日 -
公開（公告）號 CN110986865A 公開（公告）日 2020-04-10
申請公布號 CN110986865A 申請公布日 2020-04-10
分類號 G01B21/30;G01N33/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉寧;程文濤;鐘才明;符強(qiáng);周麗娟;米鵬飛 申請（專利權(quán)）人 蘇州偉信奧圖智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京同輝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 蘇州偉信奧圖智能科技有限公司
地址 215000 江蘇省蘇州市高新區(qū)滸墅關(guān)鎮(zhèn)城際路21號2幢501室-1015
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種環(huán)狀物缺陷檢測方法，一種環(huán)狀物缺陷檢測方法，包括以下步驟：步驟S1，在三維坐標(biāo)體系里生成環(huán)狀物邊緣一圈的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；步驟S2，計(jì)算出這些點(diǎn)云中能支撐環(huán)狀物邊緣到一個假定平面的唯一的三個支撐點(diǎn)A、B和C；步驟S3，利用這三個支撐點(diǎn)A、B和C形成一個唯一的平面；步驟S4，計(jì)算點(diǎn)云中所有點(diǎn)到這個平面之間的投射距離；步驟S5，判斷計(jì)算出來的距離是否大于閾值。本發(fā)明可以檢測環(huán)裝物體邊緣表面的缺陷，檢測方法簡單，方便檢測，減少人工漏檢率和誤檢率，減少人工成本，檢測效率高。