一種用于陣列天線校準(zhǔn)的天線面測(cè)量方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811255889.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN109444561B | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-04-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109444561B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-23 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R29/10(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張舒楠;歐陽(yáng)駿 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 成都德杉科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都巾幗知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 邢偉 |
| 地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)吉泰五路88號(hào)2棟11層4號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于陣列天線校準(zhǔn)的天線面測(cè)量方法，包括以下步驟：S1.對(duì)于具有M個(gè)天線單元的陣列天線，選取M個(gè)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行電場(chǎng)測(cè)量；S2.建立測(cè)量模型；S3.獲取測(cè)量點(diǎn)與天線陣列之間的互耦系數(shù)矩陣；S4.同時(shí)激勵(lì)所有天線單元，依次在每個(gè)測(cè)量點(diǎn)上測(cè)量得到電場(chǎng)；S5.根據(jù)測(cè)量模型求解天線陣列的天線單元激勵(lì)。本發(fā)明提供了一種用于陣列天線校準(zhǔn)的天線面測(cè)量方法，能夠應(yīng)用于任意形式的天線陣列進(jìn)行天線單元激勵(lì)測(cè)量，并且簡(jiǎn)化和測(cè)量步驟，節(jié)省了測(cè)量時(shí)間，為陣列天線的校準(zhǔn)提供了依據(jù)。?? |
