一種柔性抗金屬標(biāo)簽的天線設(shè)計方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710686432.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN107480756B | 公開(公告)日 | 2020-05-26 |
申請公布號 | CN107480756B | 申請公布日 | 2020-05-26 |
分類號 | G06K19/077;H01Q1/22;H01Q1/38;H01Q1/50 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 鄢羿;蔡少雄;唐哲;劉聰;張袁;歐陽駿 | 申請(專利權(quán))人 | 成都德杉科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 成都巾幗知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 邢偉 |
地址 | 611731 四川省成都市中國(四川)自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)吉泰五路88號2棟11層4號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種柔性抗金屬標(biāo)簽的天線設(shè)計方法,包括以下步驟:構(gòu)建從上至下依次包括輻射貼片層(1)、介質(zhì)基板層(2)和地板層(12)的抗金屬標(biāo)簽結(jié)構(gòu)模型;根據(jù)介質(zhì)基板層(2)介電常數(shù),計算輻射貼片層(1)的諧振長度,確定輻射貼片層(1)的尺寸;根據(jù)抗金屬標(biāo)簽的芯片(4)阻抗,計算芯片(4)共軛匹配阻抗,作為的輻射貼片層(1)設(shè)計阻抗;根據(jù)設(shè)計阻抗、介質(zhì)基板的厚度,計算輻射貼片層(1)中各參數(shù)之間的關(guān)系,按照各參數(shù)之間的關(guān)系完成金屬標(biāo)簽的天線設(shè)計。本發(fā)明構(gòu)建體積小、加工難度低的抗金屬標(biāo)簽結(jié)構(gòu)模型,并在芯片共軛匹配條件下,確定輻射貼片層各參數(shù)之間的關(guān)系,完成的天線設(shè)計。 |
